立式光学计LG-1
用 途
本仪器是一采用量块或标准零件与试件相比较的方式来测量物体外形尺寸的仪器.主要用于五等精度量块,一级精度柱型规以及各种圆柱形、球形、线形等物体的直径或板形物体的厚度的精密测量，亦可用来控制精密零件的加工。
规 格
1、被测件最大长度：180mm
2、直接测量范围：±0.1mm
3、分划板分度值：1um
4、总放大倍数：1000X
5、测量压力：（2±0.2)N
6、示值变动性：0.1 μm
7、最大不准确度：±0.25 μm
8、读数方式：分划板读数
9、最大测量误差：±(0.5+L/100) μm L是被测长度,以mm计
10、仪器体积：340*160*410mm
11、仪器重量：30kg
标准配件：
1、可调带筋园台
2、可调园平台
3、带筋固定方台
4、平面测帽 Ф2
5、平面测帽 Ф 8
6、小球面测帽
7、刃形测帽
数字式立式光学计JDG-S2
一、 用途及特点 ：
本仪器是最新设计制造的立式光学计，直接测量可以达到10毫米，并有公英制的转换显示，更加方便了10毫米以下的工件测量。主要用于对五等量块，量棒，钢球，线形及平行平面状精密量具和零件的外形尺寸作精密测量，本仪器头部亦可作为一个独立体，在科研，生产过程控制及在线测量等方面，对被测件作微小位移测量。
二、 技术参数
被测件最大长度 180 mm
直接测量范围 10 mm
最小显示值 0.0001 mm
测量力 (2±0.2) N
示值变动性 0.0001 mm
最大不准确度 比较测量时 ±0.00025 mm
直接测量时 ±0.0005 mm
最大测量误差 ±(0.5+L/100) μm? L是被测长度,以mm
仪器体积 300x170x410 mm
仪器重量 25 kg
标准配件 可调带筋园台、可调园平台、平面测帽、
平面测帽、小球面测帽、刃形测帽
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