粗糙度仪测量平台TA620-上海思长约光学仪器有限公司

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粗糙度仪

粗糙度仪测量平台
粗糙度仪测量平台TA610 齿条升降，立柱可以随意转动，用来测量不容易放置的工件，可提高测量精度花岗岩平台平面度：00级\|平面公差值3μm 花岗岩平台尺寸：400×250×70mm 垂直升降高度：270mm 垂直升降微调量：20mm 粗糙度仪测量平台TA620 丝杆升降，平台上设置V型槽，用来测量形状较小的工件，可提高测量精度花岗岩平台平面度：00级\|平面公差值3μm 花岗岩平台尺寸：400×250×70mm 垂直升降高度：300±1mm 升降回程误差：≤手轮旋转1/6圈 TA620测量平台粗糙度仪测量平台TA650\|TR300专用垂直方向上的升降高度：300±1mm 微调由仪器上的可调支架完成垂直方向上的旋转角度：±45° 回程误差：不大于手轮的1/6圈平台的平面度：00级\|平面公差值3μm 平台尺寸：600×420×80 mm 总高度：695 mm 时代粗糙度仪选型表

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粗糙度仪测量平台TA610